Sistema
Avançado para Análise de Materiais:
Fundamentos
para a Análise de Materiais,
Processo
de Medição,
Avaliação
de Espectros e Materiais
JOMESA PSE: Análise de Materiais SEM-EDS |
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A microscopia eletrônica de varredura (SEM) fornece informações sobre a topologia de uma superfície, permitindo assim, imagens mais detalhadas do que as fornecidas pelos sistemas de microscopia óptica.
Através da transferência automática das coordenadas, as partículas relevantes podem ser analisadas em um tempo muito curto.
A detecção integrada da espectroscopia por dispersão de energia (EDS), permite determinar a composição dos materiais.
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